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低硅微碳铬铁检测

检测项目

铬含量:测定范围60.0-70.0%,精度±0.05%(依据GB/T 223.11标准)

碳含量:测定范围0.01-0.10%,精度±0.001%(ASTM E1019规范)

硅含量:测定范围0.10-1.00%,精度±0.005%(ISO 4934要求)

硫含量:测定范围0.001-0.050%,精度±0.0002%(GB/T 223.68方法)

磷含量:测定范围0.005-0.050%,精度±0.0003%(ISO 6830规程)

铁含量:测定范围25.0-35.0%,精度±0.1%(ASTM E415标准)

锰含量:测定范围0.01-0.50%,精度±0.002%(GB/T 223.64规范)

铝含量:测定范围0.01-0.50%,精度±0.003%(ISO 10280方法)

钛含量:测定范围0.001-0.050%,精度±0.0005%(ASTM E2371标准)

铜含量:测定范围0.001-0.100%,精度±0.0004%(GB/T 223.53规程)

镍含量:测定范围0.001-0.100%,精度±0.0003%(ISO 4937规范)

铅含量:测定范围0.0001-0.0100%,精度±0.00005%(ASTM E1834方法)

砷含量:测定范围0.0001-0.0050%,精度±0.00003%(GB/T 223.31标准)

密度:测定范围6.50-7.50 g/cm³,精度±0.005 g/cm³(ISO 3369规程)

硬度:测定范围100-300 HB,精度±2 HB(ASTM E10标准)

粒度分布:测定范围0.01-50.0 mm,D50精度±0.1 mm(ISO 13320规范)

水分含量:测定范围0-1.00%,精度±0.005%(ISO 760方法)

表观孔隙率:测定范围0-5.0%,精度±0.1%(GB/T 1423标准)

热稳定性:温度范围20-1000°C,精度±1°C(ASTM E831规程)

磁性性能:磁导率测定范围1-100 H/m,精度±0.5%(ISO 2178规范)

检测范围

铸造工业用低硅微碳铬铁块状材料(粒度20-100mm)

炼钢炉添加剂低硅微碳铬铁颗粒(规格0.5-10mm)

不锈钢生产专用低硅微碳铬铁合金(铬含量≥65%)

工具钢制造用高纯度低硅微碳铬铁(碳含量≤0.05%)

粉末冶金应用低硅微碳铬铁粉末(粒度0.1-100μm)

特殊合金添加剂低硅微碳铬铁(杂质元素控制S≤0.01%)

出口贸易标准低硅微碳铬铁(符合国际ISO规范)

工业级低硅微碳铬铁废料回收材料(用于再生冶炼)

实验室校准用低硅微碳铬铁标准样品(均匀性±0.1%)

耐磨材料组件低硅微碳铬铁基体(硬度≥200 HB)

高温合金用低硅微碳铬铁预合金粉(热稳定性测试)

电子工业溅射靶材低硅微碳铬铁(纯度≥99.9%)

汽车零部件涂层低硅微碳铬铁粉(粒度D90≤50μm)

航空航天结构件用低硅微碳铬铁复合材料(密度6.8 g/cm³)

核工业屏蔽材料低硅微碳铬铁块(辐射稳定性要求)

化工催化剂载体低硅微碳铬铁颗粒(孔隙率≤1%)

建筑耐蚀钢添加低硅微碳铬铁(硫含量控制≤0.005%)

海洋工程用低硅微碳铬铁合金(耐盐雾腐蚀测试)

医疗植入物材料低硅微碳铬铁(生物相容性评估)

能源设备电极用低硅微碳铬铁(导电性参数)

检测方法

光电发射光谱法:依据ASTM E415测定铬、铁、锰等主元素含量

高频红外吸收法:依据GB/T 223.71测定碳含量和硫含量

重量分析法:依据ISO 4934测定硅含量和铝含量

电感耦合等离子体原子发射光谱法:依据ASTM E2371测定硫、磷、钛等微量元素

X射线荧光光谱法:依据GB/T 223.11测定铬含量和镍含量

滴定分析法:依据ISO 6830测定铁含量和铜含量

激光衍射粒度分析法:依据ISO 13320测定粒度分布参数

密度瓶浸没法:依据GB/T 1423测定密度和表观孔隙率

布氏硬度测试法:依据ASTM E10测定材料硬度值

卡尔费休库仑法:依据ISO 760测定水分含量精度

热重分析法:依据ASTM E831测定热稳定性和失重率

磁导率测量法:依据ISO 2178测定磁性性能参数

原子吸收光谱法:依据GB/T 223.64测定铅、砷等痕量元素

扫描电子显微镜法:依据ISO 22489测定表面形貌和孔隙结构

电感耦合等离子体质谱法:依据ASTM D5673测定超低含量杂质元素

离子色谱法:依据GB/T 33345测定可溶性离子残留

压力浸渗法:依据ISO 3369测定孔隙率和密度相关性

振动样品磁强计法:依据ASTM A342测定磁性能指标

热膨胀系数测试法:依据ISO 11359测定温度稳定性

金相显微镜法:依据GB/T 13298测定微观结构和相组成

检测设备

光电直读光谱仪Model SPJianCeROLAB M10:用于多元素同时分析,精度±0.01%,波长范围170-800nm

高频红外碳硫分析仪Model CS-9000:测定碳硫含量,精度±0.0001%,温度控制±1°C

X射线荧光光谱仪Model XRF-2000:元素定量分析,分辨率<0.001%,检测限0.01ppm

电感耦合等离子体发射光谱仪Model ICP-OES 5500:微量元素测定,检出限0.001ppm,动态范围106

激光粒度分析仪Model LS-13320:粒度分布测试,范围0.01-3500μm,重复性±0.5%

布氏硬度计Model HB-5000:硬度测定,载荷范围1-3000kgf,精度±0.5HB

密度测定仪Model DENSIMETER Pro:密度和孔隙率测量,精度±0.001 g/cm³,样品尺寸0-100mm

水分测定仪Model KF-TITRATOR V20:卡尔费休法水分分析,精度±0.001%,滴定速度0.1μL/s

热重分析仪Model TGA-800:热稳定性测试,温度范围RT-1500°C,精度±0.1μg

磁导率测试系统Model MAGNETO-100:磁性性能测定,频率范围10Hz-100kHz,精度±0.1%

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

低硅微碳铬铁检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。